[1]
E. Crespo-Torres, R. F. Domínguez-Cruz, L. A. Garza-Alvarado, P. E. Zamora-González, y Y. A. Fuentes-Rubio, «Arquitectura embebida de bajo costo para el control temporal repetible en estaciones de prueba electrónica», Memoria investig. ing. (Facultad Ing., Univ. Montev.), n.º 30, pp. 229–243, jun. 2026.