Arquitectura embebida de bajo costo para el control temporal repetible en estaciones de prueba electrónica

Autores/as

DOI:

https://doi.org/10.36561/ING.30.15

Palabras clave:

Control temporal repetible, Sistemas embebidos, Estaciones de prueba electrónica, Automatización industrial, Sistemas de bajo costo

Resumen

La automatización de estaciones de prueba electrónica suele verse limitada por el control manual del tiempo, lo que introduce variabilidad dependiente del operador, prolongación de ciclos y aumento de reprocesos. Este trabajo presenta un sistema embebido de bajo costo para el control temporal automatizado y repetible en estaciones de prueba, diseñado para garantizar la terminación consistente de ciclos, retroalimentación visual integrada y desconexión automática de energía. La arquitectura propuesta se basa en una plataforma de microcontrolador implementada con componentes ampliamente disponibles para asegurar simplicidad y escalabilidad. El sistema fue caracterizado técnicamente para evaluar precisión temporal, repetibilidad y consistencia de actuación en condiciones industriales reales. Los resultados experimentales obtenidos a partir de 120 ciclos de prueba durante cuatro semanas muestran comportamiento estable entre ciclos, con tiempo promedio de 30.02 min, desviación estándar de 0.03 min y un error absoluto máximo inferior a 0.08 min respecto al valor programado. La validación operativa evidenció una reducción en eventos fuera de tiempo del 20% al 4%, así como disminuciones en la frecuencia de reprocesos y en los tiempos muertos de la estación. Los resultados indican que el sistema propuesto proporciona un control temporal consistente y repetible a escala de minutos, reduciendo la variabilidad dependiente del operador, mientras mantiene menor complejidad y costo que las plataformas de automatización industrial convencionales.

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Publicado

2026-06-17

Cómo citar

[1]
E. Crespo-Torres, R. F. Domínguez-Cruz, L. A. Garza-Alvarado, P. E. Zamora-González, y Y. A. Fuentes-Rubio, «Arquitectura embebida de bajo costo para el control temporal repetible en estaciones de prueba electrónica», Memoria investig. ing. (Facultad Ing., Univ. Montev.), n.º 30, pp. 229–243, jun. 2026.

Número

Sección

Artículos